X-ışını Difraktometresi
AL-2700 serisi difraktometre malzeme araştırması için tasarlanmıştırve endüstriyel ürün analizi yapan mükemmel bir üründür.geleneksel analiz ve özel amaçlı ölçümü birleştiriröğe.
1.Donanım ve yazılım sisteminin mükemmel birleşimi,Farklı uygulama alanının gereksinimlerini karşılamakakademisyen, bilimsel araştırma
2.Yüksek hassasiyetli kırınım açısı ölçüm sistemi,daha doğru ölçüm sonuçları
3.Yüksek stabiliteye sahip X-ışını jeneratörü kontrol sistemi ve daha fazlasını elde edinistikrarlı tekrar ölçüm hassasiyeti
4.Çeşitli fonksiyonel aksesuarlar gereksinimleri karşılarfarklı test amaçları
5.Program işletimi, entegre yapı tasarımı, kullanımı kolayÇalıştırın, cihazın daha güzel görünümü
Temel fonksiyonların yanı sıra, DX serisi difraktometreler çeşitli özelliklerle hızlı bir şekilde ayarlanabilir.Üstün analitik yeteneklere sahip aksesuarlar.
Düşük sıcaklık ataşmanı takılı
Yüksek sıcaklık ataşmanı takılı
Çok fonksiyonlu numune tutucu takılı
Uygulamalar
AL-2700 serisi difraktometre difraktometresi, malzeme yapı analizinin çeşitli alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır. Metali analiz edebilirmalzemeler, inorganik malzemeler, kompozit malzemeler, organik malzemeler, nano malzemeler ve süper iletken malzemeler. Malzemedurumlar toz numuneler, toplu numuneler, ince film numuneleri ve mikro numuneler olabilirKil mineralleri, çimento yapı malzemeleri, çevresel toz, kimyasal ürünler, ilaçlar, asbest, rok cre,polimer ve diğer araştırma alanları
