X-ışını difraktometresinin prensibi
X ışınlarının dalga boyu, kristalin içindeki atomik düzlemler arasındaki mesafeye benzer ve kristal, X ışınları için uzaysal bir kırınım ızgarası görevi görebilir. Bir X-ışını demeti bir nesne üzerine ışınlandığında, nesnedeki atomlar tarafından saçılır ve her atom saçılma dalgaları üretir. Bu dalgalar birbirine müdahale ederek kırınıma neden olur. Kırınım dalgalarının üst üste binmesi, ışınların yoğunluğunun belirli yönlerde artmasına, diğer yönlerde azalmasına neden olur. Kırınım sonuçları analiz edilerek kristal yapı elde edilebilir. Yukarıdaki, Alman fizikçi M. von Laue'nin 1912'de öne sürdüğü ve deneylerle hemen doğrulanan önemli bir bilimsel tahmindir. 1913'te İngiliz fizikçiler WH Bragg ve WL Bragg, Laue'nin keşfine dayanarak,
Kristal malzemeler için, test edilen kristal gelen ışından farklı bir açıda olduğunda Bragg kırınımını karşılayan kristal düzlemleri tespit edilecek ve XRD modelinde farklı kırınım yoğunluklarına sahip kırınım tepe noktaları olarak yansıtılacaktır. Amorf malzemeler için, kristal yapıda uzun menzilli atomik düzenleme düzeni bulunmadığından, ancak birkaç atomik aralıkta kısa menzilli düzen olduğundan, amorf malzemelerin XRD spektrumu bazı dağınık saçılma Mantou zirveleridir.
X-ışını difraktometresi, maddelerin kristal yapısını, dokusunu ve stresini doğru bir şekilde belirlemek ve faz analizi, niteliksel analiz ve niceliksel analizi doğru bir şekilde gerçekleştirmek için kırınım ilkesini kullanır. Metalurji, petrol, kimya mühendisliği, bilimsel araştırma, havacılık, öğretim, malzeme üretimi vb. alanlarda yaygın olarak kullanılır.
