Lityum pil endüstrisinde X-ışını kırınım teknolojisinin uygulama prensibi
X-ışınları, dalga boyları yaklaşık 0,001 nm ila 10 nm arasında değişen, yüksek frekanslı elektromanyetik dalgalardır. Güçlü penetrasyona ve belirli miktarda radyasyona sahiptir. X-ışınları, yüksek hızlı elektron veya diğer yüksek enerjili radyasyon akımları tarafından üretilir（ γ Işınlar, nötron akımları vb. diğer maddelerle çarpıştığında, hızları aniden düşer ve üretmek için maddenin iç atomları ile etkileşime girerler.
http://www.aolongxray.com/product-list/ direction-x-ray-flaw-detector
Difraktometredeki farklı hedef malzemeler (farklı Atom numarası, dış katmandaki farklı Elektron konfigürasyonu), farklı karakteristik X-ışını dalga boyları üretir. Daha uzun dalga boyuna sahip hedef malzemeden elde edilen kırınım deseni tepe konumu 2 θ çizgisi boyuncadır Eksen düzenli olarak gerilir; Daha kısa dalga boyuna sahip hedef malzemeden elde edilen kırınım paterni tepe konumu 2 θ kenarı boyuncadır Eksen düzenli olarak sıkıştırılır. Ancak kırınım spektrumundan elde edilen numune düzlemleri arasındaki mesafe değerlerinin hepsi aynıdır.
http://www.aolongxray.com/product-list/x-ray-fluorescence-spectrometer
Farklı kristaller içindeki atomların dizilişi benzersiz olduğu için karşılık gelen kırınım modelleri de benzersizdir, bu da faz analizinin gerçekleştirilebilmesinin nedenidir. Kırınım modellerindeki kırınım zirvelerinin dağılım modeli, kristal hücrelerin boyutu, şekli ve yönü ile belirlenir. Kırınım tepe noktalarının yoğunluğu, atomların türü ve kristal hücredeki konumları tarafından belirlenir, ancak numunenin kütle soğurma katsayısı, gelen ışınların dalga boyu ile ilgilidir. Bu nedenle, farklı tırmık malzemeleriyle elde edilen aynı numune üzerindeki kırınım tepe noktalarının yoğunluğu da farklı olacaktır.
http://www.aolongxray.com/product-list/industrial-ct
XRD ilkesini derinlemesine anlamak için, bir denklem ve bir formül de bilmemiz gerekir: Bragg denklemi ve Scherrer denklemi (her ikisinin de özel ilkeleri burada ayrıntılı olarak açıklanmayacaktır ve ilgili literatürü kendiniz bulabilirsiniz).
Bragg denklemi: Kırınım ışınlarının yönü ile kristal yapı arasındaki ilişkiyi yansıtan, bir kristaldeki X-ışınları kırınımının karşılaması gereken temel koşul. Formül: 2dsin θ = N λ （ θ Geliş açısıdır, 2 θ kırınım açısıdır, d kristal düzlem aralığıdır ve n kırınım sırasıdır, λ X-ışınının dalga boyudur.
http://www.aolongxray.com/product-list/industrial-ct
Scherrer denklemi: Tane boyutu ile kırınım zirvesinin yarım tepe genişliği arasındaki ilişkiyi tanımlamak için kullanılır. Formül: D=K λ / β Cos θ (D tane boyutudur, β Kırınım zirvesinin yarım tepe genişliğini ölçmek için, θ Kırınım açısıdır, λ X-ışını dalga boyudur ve K Scherrer sabitidir.
web sitesi: http://www.aolongxray.com/
