Enerji Dağılım X-ışını Floresan Spektrometresi
Enerji dağılımlı X-ışını floresans analiz teknolojisini kullanan AL-NP-5010A, maddedeki çeşitli elementleri aynı anda ölçebilir. Kullanıcının uygulama gereksinimlerine göre Na'dan U'ya kadar birçok öğeyi ölçecek şekilde yapılandırılabilir.
Cihaz çevre koruma, arkeoloji, yapı malzemeleri, RoHS direktifi ve diğer endüstrilerde yaygın olarak kullanılabilir. İşletme için kalite kontrolün ideal seçimidir.
X-ışını floresans spektrometresi (XRF), çeşitli malzemelerin elementel belirlenmesi için son teknoloji ürünü bir evrensel analiz yöntemidir. Blok, toz veya sıvı numunesi olsun, berilyumdan (Be4) uranyuma (U92) kadar periyodik tablodaki hemen hemen tüm elementler üzerinde doğru kalitatif, kantitatif ve standart dışı analizler yapılabilir. Farklı uygulama gereksinimlerine göre, analiz konsantrasyonu 0,1 PPM'den %100'e kadar değişir ve hatta %100'e kadar olan elementlerin konsantrasyonu bile seyreltmeden doğrudan ölçülebilir. XRF analizi basit numune hazırlama, geniş ölçüm aralığı ile karakterize edilir
XRF çevre koruma alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır.
jeoloji, maden, metalurji, çimento, elektronik, petrokimya, polimer, gıda, ilaç ve yüksek teknoloji malzemeleri. Ürün araştırma ve geliştirme, üretim sürecinin izlenmesi ve kalitesinde önemli bir rol oynar
